高效率:采用高速同步運(yùn)動(dòng)控制技術(shù),全方位滿足IC產(chǎn)品高效檢測需求
高檢出率:基于特征機(jī)器學(xué)習(xí)算法有效識(shí)別細(xì)微缺陷,提高缺陷檢出率
智能性:提供處方輔助編輯功能,提升人員效率,縮短新產(chǎn)品導(dǎo)入周期
全面性:支持IC各工序的全自動(dòng)檢驗(yàn),具備良好的物料兼容性
工廠自動(dòng)化:支持SECS/GEM SEMI標(biāo)準(zhǔn),全面滿足工廠自動(dòng)化需求