6月13日，國家知識產(chǎn)權(quán)局專利局專利審查協(xié)作江蘇中心（以下簡稱審協(xié)江蘇中心）電學(xué)部主任張曉琳一行8人蒞臨御微半導(dǎo)體開展“半導(dǎo)體量檢測領(lǐng)域技術(shù)難點”等主題調(diào)研，并召開座談會。御微半導(dǎo)體副總（研發(fā)總監(jiān)）、研發(fā)中心機電部經(jīng)理、系統(tǒng)與集成部經(jīng)理等相關(guān)負責人陪同調(diào)研。

  會議期間，御微相關(guān)負責人介紹了公司發(fā)展情況及知識產(chǎn)權(quán)管理工作情況，雙方分別從產(chǎn)品實戰(zhàn)經(jīng)驗和理論研究出發(fā)，就半導(dǎo)體量檢測技術(shù)展開討論。審協(xié)江蘇中心對御微的技術(shù)研發(fā)給予了較高的評價。

  雙方還就御微對審協(xié)江蘇中心后續(xù)調(diào)研報告的期望做了討論，從專利地域、技術(shù)領(lǐng)域、分析內(nèi)容（技術(shù)脈絡(luò)、技術(shù)布局、技術(shù)發(fā)展等）及關(guān)注的權(quán)利人等方面進行了深入溝通。

  未來，御微半導(dǎo)體將進一步加強專利培育力度，通過持續(xù)提高公司技術(shù)人員知識產(chǎn)權(quán)專業(yè)能力，增強專利申請質(zhì)量，不斷提升核心競爭力，助推公司高質(zhì)量發(fā)展。